Description
差模干扰:也称串模干扰,就是串联与信号源回路之中的干扰。它串联在信号源回路中,与被测信号相加后输入系统。产生差模干扰的因素主要有分布电容的静电耦合、空间的磁场耦合、长线传输的互感、50HZ的工频干扰,以及信号回路中元件的参数变化等。
Leybold WS151 Vacuum Pump Blower
Tokyo Electron Cover Bellows A (DRM2) ***NEW***
Applied Materials LSI Slit Valve Liner P/N 0020-19003
Applied Materials LSI Slit Valve Filler P/N 0021-09718
Leybold Pump P/N 21945 Removed from Leybold Ultratest F
Leybold Pump P/N 590 29113 from Leybold Ultratest F
Millipore Waferpure Megaline Cat No. WPLV202SI